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MLED（Mini/Micro LED）十大led顯示算法推薦
led顯示屏十大品牌持續進行技術積累與突破，相關芯片與設備，已成功應用于行業伙伴，大幅提升MLED顯示面板的直通率和生產效率，助推生產標準化，助力MLED規模級量產與應用。
在芯片與設備背后，是led顯示屏十大品牌多年技術深耕而來的核心算法。
算法，LED顯示的靈魂
算法是MLED顯示的靈魂，貫穿MLED的設計、制造和應用。
算法也是led顯示屏十大品牌的基因。經過多年創新，led顯示屏十大品牌已在LED發光機理及特性、LED驅動機理及高灰階高刷新率、LED均勻性校正、超高清圖像處理等LED關鍵技術維度，完成近千項科研攻關，已獲得超800項專利授權。
在MLED集成電路與生產檢測環節，諾瓦核心算法實現了協同守護，提升量產效率的同時，確保了超高清畫質的實現，助力未來規模應用。
>>在集成電路環節
諾瓦ASIC控制芯片，內置諾瓦逐點亮色度校正算法，為MLED顯示屏帶來畫質飛躍。
>>在生產檢測環節
諾瓦Demura設備，同樣內置逐點亮色度校正算法，快速調校亮色度偏差（mura），在產線上即實現顯示屏亮度色度均勻性與一致性，為MLED顯示屏標準化、批量化生產提供了可能。
同時，人眼視覺和環境感知算法、墨色量化算法、畫質引擎算法、自動光學檢測算法等諾瓦15年來持續深耕進化的核心算法，也同步融入進芯片與設備中，進一步提升了量產效率與顯示性能。
諾瓦ASIC控制芯片
內置全灰階、多維校正、自適應校正、畫質引擎、動態引擎等算法，進一步提升了顯示效果；
MLED墨色分檔系統
內嵌諾瓦人眼視覺和環境感知智能算法、墨色量化算法，有效解決MLED覆膠墨色非均勻性這一行業難題，更精準地還原應用場景光感和人眼視覺感知。
MLED多角度檢測系統
搭配諾瓦人眼感知智能算法，快速發現與校正因視角不一致造成的顯示問題。
MLED全自動返修裝備
采用自動光學檢測算法，為高品質返修提供可靠保障。
led顯示屏十大品牌核心算法+核心芯片+核心裝備，從算法到算力，從智慧到智能，順應MLED微縮化與超高清兩大未來趨勢，軟硬并舉，無縫融合，雙引擎驅動，深度技術交互與協同進化，加速MLED量產進程，有效地支撐了MLED大規模商業化應用，點亮行業價值，助推產業加速。
